Oblea de silicio con troqueles de semiconductores estampados
Automatización de laboratorio y fabricación

Automatización de fabricación y agentes autónomos

Sistemas autónomos de inspección, medición y procesamiento para fabricación de alta precisión.

Serie de productos

Productos

Renderizado de producto ilustrativo de Sistema de metrología de superposición de obleas
Sistema de metrología de superposición de obleas

Medición automática de superposición para obleas de 6/8/12 pulgadas, de una y doble cara.

Configuración típica
  • Óptica NA 0.7
  • Iluminación sintonizable de banda ancha
  • Algoritmos sub-píxel AI
Configuración confirmada por proyecto
Renderizado de producto ilustrativo de Sistemas de inspección de defectos de precisión
Sistemas de inspección de defectos de precisión

Inspección de visión AI para semiconductores, pantallas y componentes de nueva energía.

Configuración confirmada por proyecto
Renderizado de producto ilustrativo de Sistemas de corte y procesamiento de precisión
Sistemas de corte y procesamiento de precisión

Corte de precisión automatizado para maximizar el rendimiento (detalles bajo petición).

Configuración confirmada por proyecto
Renderizado de producto ilustrativo de Inspección visual de pantallas y dispositivos terminados
Inspección visual de pantallas y dispositivos terminados

Inspección óptica automatizada de paneles y dispositivos ensamblados.

Configuración confirmada por proyecto

Hablar con Ventas

Discuta sus requisitos técnicos con nuestros especialistas.